塑料、絕緣材料介電常數(shù)測試儀
產(chǎn)品概述
塑料、絕緣材料介電常數(shù)測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內(nèi)高的160MHz。
塑料、絕緣材料介電常數(shù)測試儀技術參數(shù):
1.Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023。
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c.標稱誤差
頻率范圍(100kHz~10MHz): 頻率范圍(10MHz~160MHz):
固有誤差:≤5%±滿度值的2% 固有誤差:≤6%±滿度值的2%
工作誤差:≤7%±滿度值的2% 工作誤差:≤8%±滿度值的2%
2.電感測量范圍:4.5nH~7.9mH
3.電容測量:1~205
主電容調(diào)節(jié)范圍:18~220pF
準確度:150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1%
注:大于直接測量范圍的電容測量見后頁使用說明
4. 信號源頻率覆蓋范圍
頻率范圍CH1:0.1~0.999999MHz, CH2: 1~9.99999MHz,
CH3:10~99.9999MHz, CH1 :100~160MHz,
5.Q合格指示預置功能: 預置范圍:5~1000。
6.B-測試儀正常工作條件
a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7kg;
c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
高頻/音頻介電常數(shù)測試儀GDAT-A測試注意事項
a.本儀器應水平安放;
b.如果你需要較精確地測量,請接通電源后,預熱30分鐘;
c.調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關時,當接近諧振點時請緩調(diào);
d.被測件和測試電路接線柱間的接線應盡量短,足夠粗,并應接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差;
e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;
f.手不得靠近試件,以免人體感應影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應連接在低電位端的接線柱。
影響介電性能的因素
下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強度對介電性能的影響。
1頻率
因為只有少數(shù)材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內(nèi)它們的 。r和 tans幾乎是恒定的,且被用作工程電介質(zhì)材料,然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測量其介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率。
電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的變化是由于介質(zhì)極化和電導而產(chǎn)生,重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導致的界面極化所引起的.
2溫度
損耗指數(shù)在一個頻率下可以出現(xiàn)一個大值,這個頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關。介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率的溫度系數(shù)可以是正的或負的,這取決于在測量溫度下的介質(zhì)損耗指數(shù)大值位置。
3濕度
極化的程度隨水分的吸收量或電介質(zhì)材料表面水膜的形成而增加,其結果使電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電導率增大。因此試驗前和試驗時對環(huán)境濕度進行控制是*的.
注:濕度的顯著影響常常發(fā)生在 1MHz以下及微波頻率范圍內(nèi)
4電場強度
存在界面極化時,自由離子的數(shù)目隨電場強度增大而增加,其損耗指數(shù)大值的大小和位置也隨此而變。
在較高的頻率下,只要電介質(zhì)中不出現(xiàn)局部放電,電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)與電場強度無關
測量方法的選擇:
高頻/音頻介電常數(shù)測試儀GDAT-A測量電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的方法可分成兩種:零點指示法和諧振法。
1 零點指示法適用于頻率不超過50 MHz時的測量。測量電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)可用替代法;也就是在接人試樣和不接試樣兩種狀態(tài)下,調(diào)節(jié)回路的一個臂使電橋平衡。通?;芈凡捎梦髁蛛姌颉⒆儔浩麟姌?也就是互感藕合比例臂電橋)和并聯(lián) T型網(wǎng)絡。變壓器電橋的優(yōu)點:采用保護電極不需任何外加附件或過多操作,就可采用保護電極;它沒有其他網(wǎng)絡的缺點。
2 諧振法適用于10 kHz一幾百MHz的頻率范圍內(nèi)的測量。該方法為替代法測量,常用的是變電抗法。但該方法不適合采用保護電極。
注:典型的電橋和電路示例見附錄。附錄中所舉的例子自然是不全面的,敘述電橋和側(cè)量方法報導見有關文獻和該種儀器的原理說明書。
試驗報告
試驗報告中應給出下列相關內(nèi)容:
絕緣材料的型號名稱及種類、供貨形式、取樣方法、試樣的形狀及尺寸和取樣 日期(并注明試樣厚度和試樣在與電極接觸的表面進行處理的情況);
試樣條件處理的方法和處理時間;
電極裝置類型,若有加在試樣上的電極應注明其類型;
測量儀器;
試驗時的溫度和相對濕度以及試樣的溫度;
施加的電壓;
施加的頻率;
相對電容率ε(平均值);
介質(zhì)損耗因數(shù) tans(平均值);
試驗 日期 ;
相對電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)值以及由它們計算得到的值如損耗指數(shù)和損耗角,必要時,應給出與溫度和頻率的關系。
特點:
◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術,使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。
◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
介質(zhì)損耗:絕緣材料在電場作用下,由于介質(zhì)電導和介質(zhì)極化的滯后效應,在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失,簡稱介損。在交變電場作用下,電介質(zhì)內(nèi)流過的電流相量和電壓相量之間的夾角(功率因數(shù)角Φ)的余角δ稱為介質(zhì)損耗角。
損耗因子也指耗損正切,是交流電被轉(zhuǎn)化為熱能的介電損耗(耗散的能量)的量度,一般情況下都期望耗損因子低些好
概念:
電介質(zhì)在外電場作用下,其內(nèi)部會有發(fā)熱現(xiàn)象,這說明有部分電能已轉(zhuǎn)化為熱能耗散掉,電介質(zhì)在電場作用下,在單位時間內(nèi)因發(fā)熱而消耗的能量稱為電介質(zhì)的損耗功率,或簡稱介質(zhì)損耗(diclectric loss)。介質(zhì)損耗是應用于交流電場中電介質(zhì)的重要品質(zhì)指標之一。介質(zhì)損耗不但消耗了電能,而且使元件發(fā)熱影響其正常工作。如果介電損耗較大,甚至會引起介質(zhì)的過熱而絕緣破壞,所以從這種意義上講,介質(zhì)損耗越小越好。
主要技術特性:
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉(zhuǎn)換,數(shù)值顯示等新技術,改進了調(diào)諧回路,使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至低,并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。
使用方法
高頻Q表是多用途的阻抗測量儀器,為了提高測量精度,除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測試方法和殘余參數(shù)修正方法。
1.測試注意事項
a.本儀器應水平安放;
b.如果你需要較精確地測量,請接通電源后,預熱30分鐘;
c.調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關時,當接近諧振點時請緩調(diào);
d.被測件和測試電路接線柱間的接線應盡量短,足夠粗,并應接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差;
e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;
f.手不得靠近試件,以免人體感應影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應連接在低電位端的接線柱。
2.高頻線圈的Q值測量(基本測量法)
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 VFD顯示 采用新穎的大屏幕VFD點陣顯示器,在嚴冬和盛夏都能清晰顯示。全中文操作菜單,操作提示各種警告信息,直觀明了,不需查閱說明書即可操作。
打印 儀器附有微型打印機,以中文方式打印輸出測量結果及狀態(tài)。
RS232 儀器具有RS232接口,與計算機連接便于數(shù)據(jù)的統(tǒng)計和處理及保存。
可選購與計算機通信應用程序。
硫化橡膠介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 電介質(zhì)的用途
電介質(zhì)一般被用在兩個不同的方面:用作電氣回路元件的支撐,并且使元件對地絕緣及元件之間相互絕緣; 用作電容器介質(zhì)。
低頻電橋
一般為高壓電橋,這不僅是由于靈敏度的緣故,也因為在低頻下正是高電壓技術特別對電介質(zhì)損耗
關注的問題。電容臂和測量臂兩者的阻抗大小在數(shù)量級上相差很多,結果,絕大部分電壓都施加在電容
Cx和 C}上,使電壓分配不平衡 上面給出的電橋平衡條件只是當?shù)蛪涸Ω邏涸帘螘r才成
立。同時,屏蔽必須接地,以保證平衡穩(wěn)定。如圖A. 2所示。屏蔽與使用被保護的電容 C、和 C、是一
致的,這個保護對于Ch來說是*的。
由于選擇不同的接地方法,實際上形成了兩類電橋。
電極系統(tǒng)
1 加到試樣上的電極
電極可選用 5.1.3中任意一種。如果不用保護環(huán)。而且試樣上下的兩個電極難以對齊時,其中一個電極應比另一個電極大些。已經(jīng)加有電極的試樣應放置在兩個金屬電極之間,這兩個金屬電極要比試樣上的電極稍小些。對于平板形和圓柱形這兩種不同電極結構的電容計算公式以及邊緣電容近似計算的經(jīng)驗公式由表1給出.
對于介質(zhì)損耗因數(shù)的測量,這種類型的電極在高頻下不能滿足要求,除非試樣的表面和金屬板都非常平整。圖 1所示的電極系統(tǒng)也要求試樣厚度均勻
2 試樣上不加電極
表面電導率很低的試樣可以不加電極而將試樣插人電極系統(tǒng)中測量,在這個電極系統(tǒng)中,試樣的一側(cè)或兩側(cè)有一個充滿空氣或液體的間隙。
平板電極或圓柱形電極結構的電容計算公式由表 3給出。
下面兩種型式的電極裝置特別合適
2.1 空氣填充測微計電極
當試樣插人和不插人時,電容都能調(diào)節(jié)到同一個值 ,不需進行測量系統(tǒng)的電氣校正就能測定電容率。電極系統(tǒng)中可包括保護電極.
2.2 流體排出法
在電容率近似等于試樣的電容率,而介質(zhì)損耗因數(shù)可以忽略的一種液體內(nèi)進行測量,這種測量與試樣厚度測量的精度關系不大。當相繼采用兩種流體時,試樣厚度和電極系統(tǒng)的尺寸可以從計算公式中消去
試樣為與試驗池電極直徑相同的圓片,或?qū)y微計電極來說,試樣可以比電極小到足以使邊緣效應忽略不計 在測微計電極中,為了忽略邊緣效應,試樣直徑約比測微計電極直徑小兩倍的試樣厚度。
原始包裝:
請保留所有的原始包裝材料,如果機器必須回廠維修,請用原來的包裝材料包裝。并請先與制造廠的維修中心聯(lián)絡。送修時,請務必將全部的附件一起送回,請注明故障現(xiàn)象和原因。另外,請在包裝上注明“易碎品”請小心搬運。
安全注意事項:
開機之前,敬請仔細閱讀本 使用指南,以防止出現(xiàn)對操作人員的意外傷害或?qū)x器的損壞等的事件。操作前,請閱讀“安裝與設置”,保證對儀器各部件的正確安裝與連接。在*次操作前,務必請有操作經(jīng)驗的人員進行指導,防止誤操作造成意外事件的發(fā)生。電擊危險: 確保在安裝或維修該儀器之前使所有導線斷電,防止在帶電情況下,對人員或設備造成傷害。
注意事項: 1、該儀器初始的包裝材料需小心保存,安裝需由本公司的專業(yè)技術人員進行操作。2、若儀器由于任何原因必須返修,必須將其裝入原紙箱中以防運輸途中損壞。3、在開機前,操作者要首先熟悉操作方法。
電性能檢測儀器:介電強度測試儀、體積表面電阻率測試儀、介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀、漏電起痕試驗儀、耐電弧試驗儀;
塑料橡膠性能檢測儀器:無轉(zhuǎn)子硫化儀、門尼粘度試驗機、熱變形維卡溫度測定儀、簡支梁沖擊試驗機、毛細管流變儀、橡膠塑料滑動摩擦試驗機
物理性能檢測儀器:氧指數(shù)測定儀、水平垂直燃燒試驗機、熔體流動速率測定儀、低溫脆性測試儀
力學性能試驗機:試驗機
北廣其他檢測海綿儀器:海綿泡沫壓陷硬度測試儀、海綿泡沫落球回彈測試儀、海綿泡沫壓縮變形試驗儀
另外我公司有:環(huán)境測試儀器、生物制藥測試儀器、動物行為測試儀、環(huán)境監(jiān)測試驗儀