介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀特點(diǎn)： 

◎ 本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值保持技術(shù)，使測(cè)Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對(duì)固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測(cè)試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測(cè)試信號(hào)。獨(dú)立信號(hào)   源輸出口，所以本機(jī)又是一臺(tái)合成信號(hào)源。

◎ 測(cè)試裝置符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀裝置：

2.3.1 平板電容器極片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要技術(shù)指標(biāo)：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣材料測(cè)試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測(cè)試。

2.1.2 tanδ和ε測(cè)量范圍：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測(cè)量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作頻率范圍：50kHz～50MHz    四位數(shù)顯，壓控振蕩器

Q值測(cè)量范圍：1～1000三位數(shù)顯，±1Q分辨率

可調(diào)電容范圍：40～500 pF  ΔC±3pF

電容測(cè)量誤差：±1%±1pF

Q表殘余電感值：約20nH

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀電感器：

按測(cè)試頻率要求，需要配置不同量的電感器。

例如：在1MHz測(cè)試頻率時(shí)，要配250μH電感器，在50MHz測(cè)試頻率時(shí)，要配0.1μH電感器等。

高頻介質(zhì)樣品（選購件）：
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。

該樣品由人工藍(lán)寶石，石英玻璃，氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測(cè)試樣品。用戶可按需訂購，以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理

本測(cè)試裝置主要由一個(gè)數(shù)顯的微測(cè)量裝置和一組間距可調(diào)的平板電容器組成，平板電容器用于夾持被測(cè)材料樣品。而數(shù)顯的微測(cè)量裝置，用于顯示被測(cè)材料樣品的厚度。配用Q表作為調(diào)諧指示儀器，通過被測(cè)材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)材料樣品時(shí)的Q值變化，可測(cè)得絕緣材料的損耗角正切值。同時(shí)，由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數(shù)。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作特性

1. 平板電容器：極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選極片間距可調(diào)范圍≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10^－4 （1MHz）

4．測(cè)微桿分辨率：0.001mm

本測(cè)試裝置主要由一個(gè)數(shù)顯的微測(cè)量裝置和一組間距可調(diào)的平板電容器組成，平板電容器用于夾持被測(cè)材料樣品。而數(shù)顯的微測(cè)量裝置，用于顯示被測(cè)材料樣品的厚度。配用Q表作為調(diào)諧指示儀器，通過被測(cè)材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)材料樣品時(shí)的Q值變化，可測(cè)得絕緣材料的損耗角正切值。同時(shí)，由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數(shù)。

材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀注意事項(xiàng)：

1．            測(cè)試裝置使用結(jié)束后，請(qǐng)及時(shí)關(guān)閉液晶顯示屏的電源，可延長電池的壽命。如果電池發(fā)出電壓低報(bào)警，應(yīng)及時(shí)更換電池保證測(cè)量的精度。電池更換位置位于液晶顯示屏的被面十字蓋冒下。用工具將十字蓋冒逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)約45°，既可取下十字蓋冒，更換電池。

2．本測(cè)試裝置是由精密機(jī)械構(gòu)件組成的測(cè)微設(shè)備，所以在使用和保存時(shí)要避免振動(dòng)和碰撞，要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存，用戶不能自行拆裝，否則其工作性能就不能保證，如測(cè)試夾具受到碰撞，可以送生產(chǎn)廠家定期檢查，要檢測(cè)以下幾個(gè)指標(biāo)：

1. 平板電容器二極片平行度在0-5mm間連續(xù)不超過0.05 mm。
2. 圓筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過0.1mm。

標(biāo)簽：

介電常數(shù)測(cè)試儀

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

材料介電常數(shù)測(cè)試儀

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