絕緣材料塑膠介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
產(chǎn)品概述
絕緣材料塑膠介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀是測試系統(tǒng)的核心檢測部件,它由一個LCD數(shù)字顯示的微測量裝置和一對經(jīng)精密加工的、間距可調(diào)的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化,測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。BH916介質(zhì)損耗測試裝置是本公司研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品,精密的加工設(shè)計、精確的LCD數(shù)字讀出、一鍵式清零功能,克服了機械刻度讀數(shù)誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。
絕緣材料塑膠介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀S916測試裝置(夾具)、GDAT型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件(裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成,它依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的zui好解決方案。
GDAT高頻Q表的全數(shù)字化界面和微機控制使讀數(shù)清晰穩(wěn)定、操作簡便。操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ,無須關(guān)注量程和換算,*摒棄了傳統(tǒng)Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況,它無疑是電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)測量的理想工具。
BH916測試裝置 GDAT高頻Q表
平板電容極片 Φ50mm 可選頻率范圍20KHz-60MHz、
間距可調(diào)范圍≥15mm 頻率指示誤差3×10-5±1個字
夾具插頭間距25mm±0.01mm 主電容調(diào)節(jié)范圍30-500
測微桿分辨率0.001mm 主調(diào)電容誤差<1%或1pF
夾具損耗角正切值≦4×10-4 (1MHz) Q測試范圍2~1023
特點:
◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。
◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
介電體(又稱電介質(zhì))zui基本的物理性質(zhì)是它的介電性,對介電性的研究不但在電介質(zhì)材料的應(yīng)用上具有重要意義,而且也是了解電介質(zhì)的分子結(jié)構(gòu)和激化機理的重要分析手段之一,探索高介電常數(shù)的電介質(zhì)材料,對電子工業(yè)元器件的小型化有著重要的意義。介電常數(shù)(又稱電容率)是反映材料特性的重要參量,電介質(zhì)極化能力越強,其介電常數(shù)就越大。測量介電常數(shù)的方法很多,常用的有比較法,替代法,電橋法,諧振法, 表法,直流測量法和微波測量法等。各種方法各有特點和適用范圍,因而要根據(jù)材料的性能,樣品的形狀和尺寸大小及所需測量的頻率范圍等選擇適當(dāng)?shù)臏y量方法。